在電子設(shè)備的研發(fā)、制造過程中，會(huì)引入新的缺陷。在設(shè)計(jì)階段，主要是由于設(shè)計(jì)臨界產(chǎn)生潛在缺陷，在采購的原材料與器件中也不可避免地存在漏檢、漏篩的隱患，制造過程中則可能因工藝上超出應(yīng)力范圍或臨界而引入缺陷，在測試和可靠性試驗(yàn)中則有可能漏檢、重復(fù)檢驗(yàn)或缺陷不明顯使缺陷未能查出，也有不適當(dāng)?shù)臏y試損壞器件、產(chǎn)品的情況存在。由于上述原因，在哪個(gè)環(huán)節(jié)重點(diǎn)進(jìn)行可靠性環(huán)境應(yīng)力篩選為有效就變得十分重要。
隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電工、電子產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也愈來愈復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確地選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護(hù)措施，才能保證產(chǎn)品在儲(chǔ)存運(yùn)輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。
環(huán)境應(yīng)力篩選能夠在短時(shí)間內(nèi)析出多的缺陷，通常采用加速環(huán)境應(yīng)力來激發(fā)故障。ESS手段包括高溫老化、溫度循環(huán)、溫沖、掃頻正弦振動(dòng)、隨機(jī)振動(dòng)及綜合手段?；旧线x用快速溫變的溫度循環(huán)和隨機(jī)振動(dòng)即可剔除大部分可缺陷。
電器、電機(jī)、儀器、儀表、各種燈具等產(chǎn)品，在儲(chǔ)存、運(yùn)輸和作用過程中往往會(huì)受到惡劣環(huán)境的影響，因而，電工、電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是保證其高質(zhì)量所*的重要環(huán)節(jié)。人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是實(shí)際環(huán)境影響的科學(xué)概括，具有典型化、規(guī)范化、使用方便、便于比較等特點(diǎn)。環(huán)境條件的多樣化和環(huán)境試驗(yàn)的重要性也對環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備提出了更嚴(yán)格的要求。
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