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Hast非飽和型老化試驗(yàn)箱的功能優(yōu)勢(shì)
更新時(shí)間:2021-06-21   點(diǎn)擊次數(shù):1103次

  Hast非飽和型老化試驗(yàn)箱可做高溫高濕高壓、雙85試驗(yàn)等測(cè)試,用于電子原器件,LED封裝,芯片(IC)、集成電路、半導(dǎo)體等檢測(cè)產(chǎn)品性能之用。

  【Hast非飽和型老化試驗(yàn)箱安全保護(hù)裝置】

  艾思荔采用三道高溫保護(hù)裝置、溫度用水?dāng)嗨Wo(hù)與電熱斷水空焚保護(hù)、機(jī)臺(tái)停機(jī)時(shí)自動(dòng)排除飽和蒸氣壓力、氣動(dòng)機(jī)構(gòu)壓力保護(hù)等,完善的保護(hù)裝置,保障實(shí)驗(yàn)室與操作人員安全。

Hast非飽和型老化試驗(yàn)箱的功能優(yōu)勢(shì)

  【Hast非飽和型老化試驗(yàn)箱設(shè)備質(zhì)量性能】

  工藝技術(shù)品質(zhì)好,耐磨性強(qiáng),設(shè)備性能穩(wěn)定,使用壽命可達(dá)20年。

  【Hast非飽和型老化試驗(yàn)箱新技術(shù)*優(yōu)勢(shì)】

  優(yōu)的溫濕度jing密控制邏輯,防止待測(cè)品潮濕與結(jié)露的模式選擇壓力值采實(shí)際感應(yīng)偵測(cè),確保溫度、濕度及壓力值準(zhǔn)確度。

  可選購(gòu)多個(gè)BIAS電壓端子:符合JESD22-A110之實(shí)驗(yàn)規(guī)范要求,模擬待測(cè)品在高溫、高濕環(huán)境下,加載大式作電壓,檢測(cè)內(nèi)部封裝模塊材料接合與保護(hù)層的滲透,并且觀察是否造成遷移。

  【合作案例】濟(jì)南半導(dǎo)體研究所、廣州賽寶、北京航空航天大學(xué)、華為技術(shù)、中北大學(xué)、NEC電子、北京協(xié)同創(chuàng)新研究院、比艾奇、訊芯等等企業(yè)。

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